“試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”，該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗(yàn)，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理，找出問(wèn)題就立即改進(jìn)，然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問(wèn)題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長(zhǎng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn)，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(zhǎng)，這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問(wèn)題的情況，針對(duì)性較強(qiáng)。

　　電子產(chǎn)品在研制階段中，經(jīng)過(guò)系統(tǒng)的試驗(yàn)，要根據(jù)暴露出的問(wèn)題作具體分析，靈活應(yīng)用。可靠性試驗(yàn)中常用的三種方法往往是周而復(fù)始地循環(huán)，并且一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長(zhǎng)，另外可靠性試驗(yàn)除通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn)外，還應(yīng)根據(jù)具體情況通過(guò)氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)和人為正常使用等各方面的試驗(yàn)來(lái)暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié)，進(jìn)行綜合的科學(xué)分析，做相應(yīng)的改進(jìn)，使得電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段對(duì)其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。